Statistique Appliquées

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Statistique Appliquées

author Volume horaire : 54 heures Devoirs surveillés : 2 Filière : Métrologue/Qualiticien spécialisé
Objectif de la formation 

Ce module permet au stagiaire de :


  • comprendre les lois statistiques utilisées en métrologie
  • savoir utiliser Microsoft Excel Office pour éditer des documents métrologiques et analyser les résultats de mesure.
Programme de formation

  • Notion de la statistique (MSM)
  • Les différentes lois statistiques appliquées en métrologie (MSM)
  • Utilisation de Microsoft office Excel (MSM)
  • Maitrise statistique des procédés (MSP)
  • Maîtrise statistique des processus : cartes de contrôles (MSP)
  • Introduction et bases du MSA (Analyse des systèmes de mesure) (MSP)


Bibliographie 

  • GUM : Guide pour l’expression de l’incertitude de mesure
  • Recueil des normes statistiques
  • MSA, 4ème édition
  • Autres publication et articles de métrologie par BIPM, CEI, ISO, OIML, UICPA, LNE, PI

Répartition horaire

Indice (*) Cours Travaux dirigés Travaux pratiques
MSM 6 h 2 h 10 h
MSP 24 h 6 h 6 h
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